SENTECH臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬xFTPadv通過(guò)選擇合適的配方，F(xiàn)TPadv反射儀以小于100ms的測(cè)量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的...

RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測(cè)量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件...

安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結(jié)合了橢偏儀和反射儀，除了測(cè)量透明膜層厚度的模糊性。它把可測(cè)量的厚度擴(kuò)展到25m，因此SE 500adv擴(kuò)展...

安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測(cè)量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長(zhǎng)和終點(diǎn)檢測(cè)，或者做樣品均勻性的自動(dòng)掃描。

自動(dòng)光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測(cè)量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動(dòng)掃描則實(shí)現(xiàn)了較高的...

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動(dòng)光譜利用紅外光譜中分子振動(dòng)模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測(cè)量。

安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快，能對(duì)不同入射角的橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。...

安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。...